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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-6000 分立器件高速測試系統(tǒng)

QT-6000分立器件高速測試機，適用于測試中小功率二極管、三極管、MOS等產(chǎn)品，可拓展內(nèi)置電容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA模塊，也可擴展外掛LCR(超高精度電容測試)、Scanbox等，應用于晶圓、FT量產(chǎn)或實驗室測試。



懸浮電源

四象限電路

高速測試

支持多種擴展

型號 QT-6000
產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立器件高速測試機，具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強等性能優(yōu)點
? 采用四象限電路，可以很好的保護被測器件
? 采用懸浮電源和全對稱結構
? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機
主要特點 ? 高速測試，UPH>40K
? 可一拖二實現(xiàn)100% FT+QA并行測試
? 先進的電容高速測試方案，實現(xiàn)CAP+DC同工位測試
? 內(nèi)置UIS測試方案，實現(xiàn)DC+UIS同工位測試

? LCR精準電容測試，最小測試電容值100fF

? 電壓/電流(可選): 1200V/600V, 30A/10A/3A





Testing standards檢測標準
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