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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
KGD(Known Good Die)測試解決方案

支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+RG&QA；提供測試機+轉(zhuǎn)塔/平移分選機搭配方案；短路保護+自研探針



針卡保護

兩顆并測

高溫常溫

數(shù)據(jù)合并

型號 KGD測試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢

低雜散解決方案

短路保護：短路關(guān)斷時間低于300nS

定制socket，適配不同Handler方案

特殊探針材料，短路測試不燒熔不沾異物

支持工位合并

支持測試機+轉(zhuǎn)塔方案，測試效率高