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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
聯(lián)動科技亮相SEMICON SEA 2025，多款測試系統(tǒng)引關(guān)注！


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       2025 年東南亞半導(dǎo)體展（SEMICON SEA 2025）盛大舉行，聯(lián)動科技在此次展會上大放異彩。其重點展示了功率器件、SIC KGD、功率模塊、晶圓測試、數(shù)?；旌系榷嗫钕冗M測試系統(tǒng)。

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       功率器件測試系統(tǒng)憑借精準的性能評估，適用于各類功率器件的檢測。SIC KGD 測試系統(tǒng)則聚焦碳化硅材料，助力提升器件的可靠性和穩(wěn)定性；功率模塊測試系統(tǒng)提供行業(yè)領(lǐng)先技術(shù)的動靜態(tài)測試方案，保障模塊在實際交付的性能；晶圓測試系統(tǒng)高效完成芯片早期性能篩選，多site并測解決方案，提高生產(chǎn)交付效率；數(shù)?；旌蠝y試系統(tǒng)集成多種功能測試技術(shù)，滿足復(fù)雜芯片測試需求。



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        聯(lián)動科技憑借這些先進的測試系統(tǒng)，與眾多行業(yè)伙伴深入交流，為推動半導(dǎo)體測試產(chǎn)業(yè)的革新和發(fā)展貢獻了重要力量。